Report Center

📄 Audit Reports
⚠️ NC Management
🔧 CAPA Tracker
🔥 Risk Assessment
ISO 9001 Approved
AUD-2026-003 심사 보고서
환경경영시스템 갱신심사 · 2026.05.28 · Major NC: 0 / Minor NC: 2 / OFI: 3
IATF 16949 Draft
AUD-2026-001 심사 보고서
반도체 Wafer FAB 정기심사 · 2026.06.03 · Major NC: 1 / Minor NC: 4 / OFI: 2
ISO 45001 Approved
AUD-2026-004 심사 보고서
안전보건경영 내부심사 · 2026.05.25 · Major NC: 0 / Minor NC: 1 / OFI: 5

Nonconformity 현황

NC ID유형규격/조항요약상태발행일
NC-001Major§7.5.3문서화된 정보 관리 부적합 — 폐기본 사용Open2026.06.03
NC-002Minor§8.5.1공정 파라미터 관리 기준 불일치CAPA 진행2026.06.02
NC-003Minor§7.2교육훈련 기록 누락 (신규 작업자)CAPA 진행2026.06.01
NC-004OFI§9.1.3데이터 분석 방법론 개선 권고Closed2026.05.28
NC-005Major§8.4.2공급업체 평가 미실시 (2차 공급자)Closed2026.05.25

CAPA Tracker

CAPA IDNC분석 방법근본 원인담당자기한상태
CAPA-027NC-0025 WhyPM 후 파라미터 검증 절차서 미비김OO 엔지니어2026.06.15진행중
CAPA-028NC-003Fishbone신규 입사자 OJT 프로세스 누락이OO 과장2026.06.20Open
CAPA-025NC-004FTA데이터 분석 도구 미표준화박OO 대리2026.05.30완료
CAPA-024NC-0055 Why2차 공급자 관리 절차 부재최OO 부장2026.06.05완료

Risk Heat Map (Severity × Occurrence)

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← SeverityOccurrence →

High Risk Items (RPN ≥ 200)

5 항목
공정Failure ModeSODRPN
CMPScratch 발생867336
EtchingOver-etch956270
LithographyOverlay 불량856240
Diffusion온도 편차756210
Thin Film두께 불균일756210